影響氣密性測試結(jié)果的因素很多，其中最重要的是溫度和體積的變化。在檢測過程中，一旦密封空氣回路中的溫度和體積發(fā)生變化，就會(huì)根據(jù)查理定律引起壓力變化，這將對(duì)泄漏測試造成更大的誤差。

　　氣密性檢漏儀在測試過程中，被測物一側(cè)的空氣回路的空氣溫度變化與壓差之間的關(guān)系如下：

　　例t = 25℃，Δt= 1℃ 

　　①P= 100kPa SoΔPt≒675Pa（當(dāng)被測物體的溫度下降時(shí)，壓力降低，并且出現(xiàn)正測量值。）

　?、赑≒-101.3kPa（真空）= 0kPa（絕對(duì)壓力），因此ΔPt= 0 Pa  

　　溫度對(duì)氣密性檢漏儀的影響

　　綜上所述，我們可以得出結(jié)論，在真空條件下，它不受溫度變化的影響嗎？ 測試誤差與測試壓力成正比。測試壓力越接近真空，誤差越小。如果實(shí)際環(huán)境溫度穩(wěn)定，則不同溫度環(huán)境下測試結(jié)果的影響很小。例如，溫度環(huán)境與5攝氏度之間的差約為5 /（273 + 20）≈1.7％。而且如果在測試過程中發(fā)生溫度變化，將對(duì)測試結(jié)果產(chǎn)生重大影響。

　　氣密性檢漏儀在正常情況下，以下原因?qū)?dǎo)致溫度變化影響測試： 

　　1.充氣過程中氣體分子的摩擦生熱

　　常見現(xiàn)象：充氣過程中氣體分子的摩擦?xí)馃崃慨a(chǎn)生。 根據(jù)氣體方程PV = NRT，可以知道測試腔的內(nèi)部壓力會(huì)增加。 充氣完成后，溫度將緩慢恢復(fù)到正常的室溫。如果穩(wěn)壓時(shí)間不夠，也就是說腔體的內(nèi)部溫度仍處于下降到測試階段的恢復(fù)期，那么由溫度下降引起的壓降將直接反映在所測試的泄漏量上這個(gè)儀器。

　　影響：在測試階段，泄漏量從大到小變化，直到穩(wěn)定為止。

　　方法一：延長電壓穩(wěn)定時(shí)間。在進(jìn)入測試階段之前，使測試室的內(nèi)部溫度自然達(dá)到外部溫度。這是常用的最直接，最有效的方法。 缺點(diǎn)是對(duì)于某些不容易導(dǎo)電的產(chǎn)品，例如較大的內(nèi)部空間或塑料部件，充氣后產(chǎn)品內(nèi)部的溫度可能需要很長時(shí)間才能恢復(fù)到正常溫度。這將導(dǎo)致更長的測試周期并影響消耗效率。

　　方法二：縮短溫度恢復(fù)時(shí)間。對(duì)于內(nèi)部空間較大的產(chǎn)品，請嘗試填充測試腔，以減小測試腔的體積。

　　方法三：在測試參考端添加與測試產(chǎn)品相同的參考件或儲(chǔ)氣罐，以抵消相同的溫度變化。（這是壓差測試方法比直接壓力測試方法的優(yōu)勢之一）

　　2.排氣溫度 

　　常見現(xiàn)象：測試完成后，產(chǎn)品內(nèi)的氣體被排出后，將帶走產(chǎn)品和密封工具上的局部溫度。如果立即停止對(duì)同一產(chǎn)品的第二次測試，則在電壓穩(wěn)定后，產(chǎn)品的內(nèi)部氣體溫度狀態(tài)將首先降低，然后升高。在測試階段，這將導(dǎo)致空腔的內(nèi)部壓力略有上升，從而抵消局部泄漏。

　　影響：對(duì)同一產(chǎn)品進(jìn)行重復(fù)測試時(shí)，測試結(jié)果將顯示小于一次。 如果重復(fù)測量中間距離時(shí)間，則會(huì)重復(fù)測試結(jié)果，這會(huì)影響測試的穩(wěn)定性。

　　處理方法：對(duì)同一產(chǎn)品進(jìn)行重復(fù)測試時(shí)，兩次測試之間需要足夠的時(shí)間以使產(chǎn)品返回正常測試狀態(tài)，并且每次測試的間隔時(shí)間最好不同。在設(shè)備上進(jìn)行重復(fù)測試時(shí)，您可以選擇以多個(gè)產(chǎn)品周期停止測試。

　　對(duì)于某些指標(biāo)相對(duì)較小且可重復(fù)性較高的產(chǎn)品，在設(shè)計(jì)工具時(shí)，請考慮使用硬質(zhì)樹脂材料作為直接接觸密封固定裝置，以防止使用導(dǎo)熱性更好的金屬材料。

　　3.測試產(chǎn)品本身具有溫度

　　常見現(xiàn)象：加工過的工件直接清洗后直接進(jìn)入測試臺(tái)。 工件本身也具有高溫。在冬季，將放置在室外的工件帶出房間，然后停止測試。

　　影響：當(dāng)較高溫度的測試片停止加熱充氣氣體更長的時(shí)間時(shí)，產(chǎn)品內(nèi)部的氣壓將在測試階段上升而不會(huì)下降，測試結(jié)果將顯示為負(fù)值。從低溫環(huán)境到高溫環(huán)境直接測試的產(chǎn)品可能會(huì)因溫度差異和不同的測試時(shí)間而顯示出較大的泄漏質(zhì)量，并且可能還會(huì)顯示出不同的負(fù)測試值現(xiàn)象。